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XRD — X射线粉末衍射仪

功能介绍:可对包括金属、矿物、塑料、药物、催化剂、纳米材料等多种材料实施晶体结构和相分析。常用于对催化剂、分子筛样品的物相鉴别,物相定量,结晶度测定,晶格点阵参数的测定。配备变温样品池和高压原位样品池后,此设备还可以进行变温(高温)、原位衍射分析。

该衍射仪最小测量角度为0 .5度,最大光管功率2.2 kW, 入射光路和衍射光路采用预校准模块,配有多种固定狭缝。带有超能探测器,扫描速度很快,在常规的X射线功率下,数分钟即可完成大角度范围的扫谱测量。配备的自动进样器,可对批量样品实施快速测定。

测试方法:该仪器样品测试操作简单,多采用平面样品台。样品颗粒度要求在200目左右,测试时,取少量(几毫克)粉末样品装入平板玻璃样品槽,压实刮平后,即可将样品槽放置到平面样品台进行测试扫谱;扫谱完成后,利用开数据检索和处理软件进行分析和处理。


测试联系人:

段洪敏 84379848;84379148/84379042转2142

徐斐斐 84379848;84379148/84379042转2145